跌落測(cè)試介紹1、微跌落微跌落試驗(yàn)應(yīng)用的領(lǐng)域
微跌落試驗(yàn)機(jī)適用于手機(jī)、電話機(jī)聽筒、對(duì)講機(jī)、U盤、IP3、CD、電子詞典等小型電子消費(fèi)類產(chǎn)品的能夠滿足樣品棱、角、面的跌落測(cè)試，可實(shí)現(xiàn)自動(dòng)…

在線預(yù)約

跌落測(cè)試介紹

1、微跌落

微跌落試驗(yàn)應(yīng)用的領(lǐng)域

微跌落試驗(yàn)機(jī)適用于手機(jī)、電話機(jī)聽筒、對(duì)講機(jī)、U盤、IP3、CD、電子詞典等小型電子消費(fèi)類產(chǎn)品的能夠滿足樣品棱、角、面的跌落測(cè)試，可實(shí)現(xiàn)自動(dòng)手動(dòng)功能。

微跌落試驗(yàn)適用標(biāo)準(zhǔn)

YD/T 1539-2006 移動(dòng)通信手持機(jī)可靠性技術(shù)要求和測(cè)試方法

2、滾筒跌落

滾筒跌落試驗(yàn)應(yīng)用范圍

滾筒跌落試驗(yàn)適用于手機(jī)、移動(dòng)電話、PDA、電子辭典、CD、P3等各種小型輕量之可換式電子產(chǎn)品以及連接器、通控器等進(jìn)行連續(xù)回轉(zhuǎn)(落下)跌落試驗(yàn)，至規(guī)定次數(shù)到達(dá)后，調(diào)查所造成損壞狀況。

手機(jī)滾筒試驗(yàn)參考標(biāo)準(zhǔn)

手機(jī)滾簡(jiǎn)測(cè)試設(shè)備滿足國標(biāo)GB/T 2423. 8-19995或IEC 60068-32, Ed2測(cè)試條件: 滾簡(jiǎn)制作工藝滿足GB/T2423.8195附錄5標(biāo)準(zhǔn)。

3、受控跌落

受控跌落試驗(yàn)設(shè)備可以對(duì)手機(jī)、平板等微小電子產(chǎn)品進(jìn)行定向自由跌落，以驗(yàn)證移動(dòng)電子產(chǎn)品部分可靠性功能測(cè)試

受控跌落測(cè)試原理

受控跌落是指樣品不包裝、裝上所配套的電池，不開機(jī)，固定在一定的角度下，放置在(1. 0±0.01)m處自由跌落在大理石表面上，以試驗(yàn)產(chǎn)品的耐沖擊性。試驗(yàn)中自動(dòng)計(jì)算加速度，在顯示屏中顯示。

相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的要求:除允許表面有擦傷、小凹坑外、功能、外觀及裝配應(yīng)符合要求。

受控跌落應(yīng)用領(lǐng)域:手機(jī)、平板等移動(dòng)電子產(chǎn)品都需要做跌落測(cè)試。

受控跌落測(cè)試標(biāo)準(zhǔn):滿足YD/T 1539-2006標(biāo)準(zhǔn)。

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