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晶體管低頻噪聲參數(shù)測(cè)試方法是評(píng)估晶體管性能關(guān)鍵的測(cè)試手段之一,通過(guò)測(cè)試可以幫助您了解晶體管在低頻噪聲方面的表現(xiàn)。下面將介紹一些常用的晶體管低頻噪聲參數(shù)測(cè)試方法。 首先,要準(zhǔn)備好測(cè)試設(shè)備。您需要一臺(tái)頻譜分析儀和一個(gè)信號(hào)源…