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印度BIS認(rèn)證、韓國(guó)KC認(rèn)證、國(guó)際電工委員會(huì)CB認(rèn)證等
在電子產(chǎn)品的生產(chǎn)過(guò)程中,HAST(Highly Accelerated Stress Test)測(cè)試是一項(xiàng)至關(guān)重要的環(huán)節(jié)。通過(guò)HAST測(cè)試,可以模擬產(chǎn)品在短時(shí)間內(nèi)所受到的高溫高濕度環(huán)境,從而評(píng)估其在極端條件下的可靠性和…